SSDコントローラIC
SL2007
株式会社シグリードでは、SSD/NANDフラッシュメモリ用誤り訂正方式の研究開発やSSDコントローラLSIの開発を行っています。
その開発経験を通して培ったNANDフラッシュメモリの評価技術やエラー解析技術を搭載したNANDフラッシュメモリテスタSigNASシリーズを提供しております。
NANDフラッシュメモリのユーザ目線で開発を行っているからこその仕様・機能構成となっています。測定評価のサポートも充実していますので、きっとご満足いただけると思います
新着情報【製品ガイド】
- エラーのP/Eサイクル依存性評価前回、P/Eサイクルを紹介しましたが、このストレスに関連して発生するエラーを測定するSigNAS3の機能につい… 続きを読む: エラーのP/Eサイクル依存性評価
- P/Eサイクル（書き換え寿命、Endurance）NAND フラッシュメモリ（以下NAND)はデータを書き込む【Program】際に、まず既存のデータを消去【E… 続きを読む: P/Eサイクル（書き換え寿命、Endurance）
- 測定するNANDの保護機能SigNAS3には、NAND Flash Memory（以下NAND）の既存データの保護や評価品質確保の為、特… 続きを読む: 測定するNANDの保護機能
シグリードについて
SIGLEADが技術者に環境を提供する、
それによって技術者がSIGLEADの要求に応える、
そしてまたSIGLEADは技術者に更によい環境を提供する……。
この正のスパイラルが形成され、
『 自立した技術者集団 』 になることによって、
お客様に満足していただける製品ができると信じています。
技術説明
株式会社シグリードの信号処理IPに関する技術解説
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お客様のニーズにあった信号処理技術を提供いたします。
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