株式会社シグリードでは、SSD/NANDフラッシュメモリ用誤り訂正方式の研究開発やSSDコントローラLSIの開発を行っています。その開発経験を通して培ったNANDフラッシュメモリの評価技術やエラー解析技術を搭載したNANDフラッシュメモリテスタSigNASシリーズを提供しております。NANDフラッシュメモリのユーザ目線で開発を行っているからこその仕様・機能構成となっています。測定評価のサポートも充実していますので、きっとご満足いただけると思います。
SigNASシリーズにご興味のあるお客様は、弊社担当者までご連絡ください。お見積もりや詳細情報の提供をさせていただきます。
NANDフラッシュメモリテスタSigNAS3
最大128個のNANDフラッシュメモリを同時測定することができます。生産工場でのNANDフラッシュメモリの受入検査、NANDフラッシュメモリを搭載した製品の寿命や不具合を調査するためのサイクルテスト、コントローラに搭載するECCの仕様選定など多岐に渡ってご活用いただけます。NANDフラッシュメモリの知識がなくても簡単にPass/Failを検査できるGUIや測定時間の短縮化など、生産ラインでの使い勝手も向上させています。研究開発や製品開発だけでなく量産工程や信頼性試験などでも活躍することが期待できます。
NANDフラッシュメモリテスタSigNASII
株式会社シグリードでは、SSD/NANDフラッシュメモリ用誤り訂正方式の研究開発やSSDコントローラLSIの開発を行っています。 その開発経験を通して培ったNANDフラッシュメモリの評価技術やエラー解析技術を搭載したNANDフラッシュメモリテスタSigNASIIを提供しております。
